TSI推出新一代Scanning Mobility Particle Sizer（SMPS）掃描電遷移率粒徑譜儀
發布時間：2015-11-9 15:25:32 文章作者：楊煥 文章來源：轉載TSI 閱讀次數：
精確測量儀器領域的全球領導者TSI公司宣布推出該款新型1nmScanning Mobility Particle SizerTM（SMPS）掃描電遷移率粒徑譜儀。
TSI的SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的標準。和3777型納米增強儀和3086型差分靜電遷移率分析儀配套使用，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。
當整合到SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀中后,3777型1nm納米增強儀讓研究者能夠以高分辨率并且快速地測量納米級氣溶膠的數量濃度和粒徑。3777型納米增強儀，和TSI的3086型 1nm-DMA差分靜電遷移率分析儀已經被最優化，能夠將散逸損失降至最低，且能夠和SMPS粒徑譜儀整合，測量1nm到50nm的粒徑，并且能夠與3081A型長差分靜電遷移率分析儀配套使用測量1nm到1μm的粒徑。
“該款1nm 凝聚粒子計數器讓研究者能夠在氣體到顆粒轉換過程邊界進行測量，”TSI顆粒物測量儀器的高級全球產品經理Jürgen Spielvogel如是說。應用包括材料科學研究、大氣和氣候研究、基礎氣溶膠研究、顆粒物成核與生長研究以及其他各類研究。